涡流阵列技术（ECA）以电子方式驱动同一个探头中多个相邻的涡流感应线圈，并解读来自这些感应线圈的信号。通过使用多路技术采集数据， 可避免不同线圈之间的互感。

OmniScan® ECA检测配置在桥式或发射-接收模式下可支持32个感应线圈（使用外部多路器可支持的感应线圈多达64个）。操作频率范围为20 Hz～6 MHz，并能选择在同一采集中使用多频。

涡流阵列的优势
同单通道涡流技术相比，涡流阵列技术具有下列优势：
·检测时间大幅度降低。
·单次扫查覆盖更大检测区域。
·减小了机械和自动扫查系统的复杂性。
·提供检测区域实时图像，便于数据的判读。
·很好地适用于对那些具有复杂几何形状的部件的检测。
·改进了检测的可靠性和检出率（POD）。

涡流阵列探头

Olympus NDT制造的R/D Tech® ECA探头可适用于广泛的应用领域。根据缺陷的不同类型或者被测工件的形状，可以设计出不同的探头。标准探头可检测如裂纹、点蚀等缺陷，以及多层结构中如裂纹及腐蚀等近表面的缺陷。

·传感器之间的多路转换技术
·涡流阵列探头可以省掉两轴扫查中的一轴，使涡流设置具有更大的灵活性
·探头可以做成不同的形状和尺寸，以更好地适应检测部件的外形
·用于腐蚀检测的发射-接收探头可以探到铝材料中6毫米（0.25英寸）的深度
·用于表面裂痕检测的发射-接收探头以及一个可选编码
·用于表面裂痕检测的绝对式探头

涡流阵列软件

简单的数据采集和分析显示
·C扫描视图中的数据采集，可快速有效地检测缺陷
·分析模式下的数据选择，可在阻抗图和带状图中浏览信号
·波幅、相位和位置测量
·可调彩色调色板
·大尺寸阻抗平面图和带状视图，与常规单通道ECT探头检测相适应

校准向导
·分步进行
·一组中的所有通道可被同时校准，每个通道各有自己的增益和旋转
·波幅和相位可以根据不同的参考缺陷设定

报警
·３个报警输出可将指示灯、蜂鸣器和TTL输出组合到一起
·可以在阻抗图中定义不同的报警区形状（扇形、长方形、环形等）

自动探头识别和配置

·探头被连接后，C扫描参数和多路器的顺序即可被自动设置
·频率范围保护可避免损坏探头

分析模式下的求差工具
·该功能可去除在相邻通道间的提离变化

高级实时数据处理
·实时数据插值可以改进缺陷的空间显示
·使用两个频率，可生成一个MIX信号，以去除干扰信号（如：提离、紧固件信号等）
·数据处理可以选用高通、低通、中值和平均滤波器。下图为一个应用实例：在搭接处边缘检测出裂纹，因为该处厚度出现急剧的变化。经滤波的数据可以改进检测效果，特别是对小裂纹而言。

粘接检测，重新打造

相同扫描中的8种频率
粘接检测的改进特性
·C扫描成像
·可同时驱动8种不同的频率
·计算缺陷大小的性能
·改进的POD
·相位/波幅的显示模式

重要事项
·由于所使用的探头与BondMaster1000e+仪器相同，因此探测方式也与这款仪器相似
·设计支持一发一收探头
·需要双轴编码扫查器生成C扫描

高级复合材料检测

我们奥林巴斯不无自豪地为广大用户推出了一款新开发的粘接检测OmniScan解决方案：这无疑是复合材料检测行业中的一大进步。如今，使用便携式仪器获得易于判读的C扫描图像已经成为现实。这款OmniScan解决方案不仅可很好地适用于蜂窝结构复合材料的脱胶检测，还可以进行分层检测，且结果的精确程度与脱胶检测相比丝毫不差。虽然这个解决方案主要为航空航天工业的在役检测而设计，但是在包括汽车和船舶工业在内的制造业中也非常有用，如：针对复合材料船体的检测。
已经拥有了OmniScan ECA或ECT模块的用户只需订购标准的BondMaster探头（P14和SPO-5629）及BondMaster线缆，就可以使用这个解决方案完成检测应用。
我们特别为复合材料的检测开发定制了MXB软件。其新添的功能，如：向导和标准化，有助于保持操作的简洁性。
编码系统：可以使用任何双轴编码扫查器检测工件。奥林巴斯提供两个选项：一个是可很好地适用于扫查平面或稍有弯曲表面的GLIDER扫查器；另一个是WING扫查器，这款扫查器专门为扫查曲面工件而设计（如：航天飞机的机身），而且因其具有Venturi真空吸盘系统，甚至可以倒置进行操作。此外，装有步进点击器的手持式单轴编码扫查器也可以与这个系统兼容，从而加强了系统的多用性。

创新型C扫描视图

奥林巴斯又一次创新了在屏幕上显示数据的方法。针对每个C扫描，操作人员可以有两个视图选择：一种是波幅C扫描，不会考虑相位情况，只基于信号的波幅而显示不同的颜色，这是一个可清晰、有效地探测脱胶缺陷的理想视图。另一种是相位C扫描，使用0°到360°的彩色调色板显示相位角的变化，有助于轻松辨别不同类型的缺陷指示，如：油灰填塞（修补）缺陷或分层缺陷。

MXE 3.0软件

涡流阵列（ECA）技术除了增加了晶片之间的电子转换性能外，实际上与常规涡流（ECT）技术并无区别。涡流阵列技术的操作与校准非常容易。新版OmniScan MXE 3.0 ECA软件经过重新设计，不仅方便了从常规ECT仪器（如：奥林巴斯的Nortec 500）到新款仪器的转换，而且可使用户以一种更便捷的方式感受到ECA技术强大的性能。

实时阻抗平面图

ECA的校准方式几乎与常规ECT完全相同。继续应用提离、增益和零位调整原理，从而使校准过程不再像以前一样那么复杂，且耗费时间。
使用ECA探头时，可以实时生成提离信号，这点与使用常规ECT探头一样。
可以使用OmniScan的飞梭旋钮实时调整相位角度。还可以同样的方式调整增益、垂直增益、零点（H/V）位置。

替代传统的NDT方法，漆层去除已经过时

涡流阵列具有透过导电材料上的薄涂层进行检测的独特性能。与现有的检测方式相比，如：渗透、磁粉或磁光成像（MOI）检测，这个性能具有很大的优势，因为完全省去了检测前去除漆层或镀层，检测后再重新涂上漆层或镀层的步骤。随着时间的推移，这种检测方式可以为用户节省大量的成本，而且最重要的是不使用化学制剂进行检测。

主要优势：
·无需去除漆层
·成像和归档
·单步检测，高速扫查，即刻得出结果
·节省了大量的时间（一般可节省10倍或更多的时间）
·大量减少了周转时间
·加强了缺陷深度评估能力
·灵敏度调整和后处理分析性能
·环保方法（不使用化学制剂）

多种熟悉的彩色调色板选择，提供更多的显示可能性
MXE 3.0 ECA软件具有使用多种彩色调色板体现数据的已获专利保护的功能，这点不仅与传统NDT显示数据的方式相同，而且方便了ECA信号的直观显示。

分析、报告和归档，检测完成后，确认或重新调出检测
得益于仪器的的整合性数据存储、分析及报告性能，即使在野外检测结束之后，OmniScan MX ECA依然可继续为用户提供价值。OmniScan MX ECA可使用户查看单个缺陷指示，并根据需要进行修正。新版MXE 3.0 ECA软件带有重新设计、简捷直观的数据光标，用户可以在仪器上直接操作这种光标（在检测现场），也可以通过USB端口连接鼠标对数据光标进行操作（在办公室）。

即刻生成检测报告，轻松归档数据文件
OmniScan MX内置有报告制作功能，只需按一下按键，即可生成报告。高级用户还可以配置和自行定义报告。但是，厂家默认的报告格式已经包含了屏幕截图和精心选择、预先导入的数据栏区，目的是省去用户定义报告的操作。
检测数据文件的归档也非常容易；用户在任何时候（在采集或分析过程中），只需按一下键，即可将数据存储在仪器的存储卡中。

编码扫查，使得数据判读更方便简单如１-２-３的优化校准

OmniScan MX ECA不仅可在常规ECT阻抗平面视图中显示ECA信号，还可提供多种其它视图和布局，用户可以从中感受到编码ECA技术真正强大的性能。这些显示可作为校准流程的一部分，可使涡流检测过程清晰可见，甚至可基于用户定义的合格标准做出通过或不通过的判断。

得益于其直观的界面设计，用户可对OmniScan MX ECA进行快速方便的配置和操作。配置和操作的步骤简单如1，2，3。
1.使用实时阻抗平面图，实时调整常用的ECT控制
2.激活编码器和C扫描视图
3.微调设置，并为检测做好准备

持续编码器模式
时基检测的优势是用户无需对仪器进行过多的干预就可以获得几乎无限的扫查性能，而编码扫描（C扫描图像）的优点在于可以生成有关缺陷位置、形状和维度的颇具价值的彩色编码图像和信息。

强大的彩色成像功能
使用彩色编码C扫描评估缺陷的深度
在大多数表面或近表面的应用中，使用涡流阵列技术与使用常规涡流技术一样，缺陷的严重程度会与返回的EC信号波幅密切相关。而使用基于波幅的彩色编码，将每个通道的返回信号绘制成带有编码位置信息的图像，所得到的C扫描显示会十分清晰直观。这些扫描图像可被保存到可插拔CF卡中，或在OmniScan MX仪器中被生成报告。

基于阈限做出接受或拒绝缺陷的决定
使用OmniScan MX ECA时，用户可以基于C扫描彩色视图，接受或拒绝缺陷指示。MXE 3.0 ECA软件包含各种各样的已经厂家测试的彩色调色板，可以在任何ECA应用中优化信号显示。